独自のシリコンナノデバイスを用いた単電子検出技術を応用 NTTは2026年4月、半導体メモリ素子（DRAMセル）における熱とエントロピーを、電子1個単位で同時測定することに世界で初めて成功したと発 村田製作所は2026年4月27日、同年3月に公表した同社IT環境への不正アクセスの続報を発表した。 それによると、不正アクセスを行った第三者に取得されたかその恐れがあるデータは、同社の従業員やその関係 老後の年金制度への信頼が薄れている現在、「生涯働く」ことについて注目が集まっています。 私自身も最近、家計の見直しをファイナンシャルプランナーにお願いしたところ、「70歳以降も働く気はありますか？